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Resultados da busca para "espectrometria de massas de íons secundários por tempo de voo"


a) Traduções Técnicas português para inglês

(Substantivo)

◼ Sigla em inglês TOF-SIMS (time-of-flight secondary ion mass spectroscopy)

Significado

Técnica analítica altamente sensível que proporciona a caracterização química das superfícies dos materiais. Isto é obtido utilizando um feixe de íons focalizado a energias típicas de 10-30 keV, a qual incide sobre a superfície da amostra e como resultado os íons secundários (SI) são emitidos das camadas atômicas mais superficiais da amostra.

   
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