Analysis of the atomic force microscopy images shows the presence of isolated pyramidal CdTe islands indicating that the quantum dots follow the Volmer-Weber growth mode.
As analises das imagens de microscopia de força atômica mostram a existência de ilhas isoladas de formato piramidal, mostrando que o crescimento segue o modo Volmer-Weber.
The methods used were thioflavin T fluorescence, atomic force microscopy and polyacrylamide gel electrophoresis.
As metodologias empregadas foram o ensaio de fluorescência da tioflavina-T, microscopia de força atômica e eletroforese em gel de poliacrilamida.
Samples were characterized by scanning electron microscopy, atomic force microscopy. polarized optical microscopy, differential scanning calorimetry, dynamic mechanical analysis, tensile test, nanoindentation and X ray diffraction.
Foram realizadas caracterizações morfológicas com microscopia eletrônica de varredura e microscopia de força atômica, estudo do comportamento térmico por calorimetria exploratória diferencial e microscopia ótica com luz polarizada, e ensaios mecânicos sob módulo de tração, análise dinâmico-mecânica e nanoindentação.
Materials were synthesized by electrospinning method followed by thermal treatment and subsequently characterized by thermogravimetry (TG), X-ray diffraction (XRD), field-emission scanning electron microscopy (FE-SEM), transmission electron microscopy (TEM), energy dispersive X-ray spectroscopy (EDS), atomic force microscopy (AFM) and specific surface area and porosity (BET).
Os materiais foram sintetizados pelo método de electrospinning seguido por tratamento térmico e, posteriormente, foram caracterizados por termogravimetria (TG), difração de raios X (DRX), microscopia eletrônica de varredura com emissão por campo (MEV-FEG), microscopia eletrônica de transmissão (MET), espectroscopia por dispersão em energia de raios X (EDS), microscopia de força atômica (AFM) e área de superfície específica e porosidade (BET).
atomic force microscopy images of S. aureus showed that the surface of sensitive cells had many irregulars regions, probably caused by the extrusion of the cytoplasm.
Imagens de S. aureus obtidas por microscopia de força atômica mostraram que a superfície das células sensíveis apresentou várias regiões irregulares, provavelmente decorrentes da extrusão de conteúdo citoplasmático.
The films were characterized by several techniques including profilometry to measure the thickness, atomic force microscopy (AFM) for determining surface morphology and x-ray diffraction for crystalline properties.
Os filmes foram caracterizados por diversas técnicas, incluindo a perfilometria para medida da espessura, a microscopia de força atômica (AFM) para determinação das propriedades morfológicas e difração de raios-x para determinação das propriedades cristalinas.
The synthesized materials were its structural and morphological properties characterized in atomic force microscopy (AFM), scanning electron microscopy (SEM), X-ray diffraction (XRD) and transmission electron microscopy (not have this result with Me).
Os materiais sintetizados tiveram suas propriedades estruturais e morfológicas caracterizadas por microscopia de força atômica (AFM), microscopia eletrônica de varredura (SEM) e difração de raios-X (XRD).
For the calculation of the samples surface roughness, the Height-Height Correlation Function (HHCF) was applied to the images obtained by atomic force microscopy (AFM).
Através de caracterizações morfológicas e eletroquímicas, analisou-se a influência da rugosidade superficial em algumas propriedades do composto como armazenamento de energia.
atomic force microscopy and transmission electron microscopy results showed that the hole shape is preserved during the AlGaAs overgrowth.
Microscopia de força atômica e microscopia eletrônica de transmissão mostraram que a forma do orifício é preservada durante o crescimento de AlGaAs.
The samples were grown by molecular beam epitaxy and characterized by atomic force microscopy. x-rays diffraction and high-resolution transmission electron microscopy.
As amostras foram crescidas pela técnica de epitaxia por feixe molecular e caracterizadas pelas técnicas de microscopia de força atômica, difração de raios X e microscopia eletrônica de transmissão de alta resolução.
The morphological and structural properties of the samples were analyzed by atomic force microscopy (AFM) at the Laboratório Nacional de Nanotecnologia and by x- ray diffraction using the XRD2 beam line of the Laboratório Nacional de Luz Síncrontron (LNLS), in Campinas.
As propriedades morfológicas e estruturais das amostras foram analisadas através de microscopia de força atômica (AFM) no Laboratório Nacional de Nanotecnologia, e através de difração de raios-x utilizando a linha XRD2 do Laboratório Nacional de Luz Síncrotron (LNLS), em Campinas.
This prediction of the anomalous scaling theory was corroborated by atomic force microscopy of the samples.
Essa previsão da teoria de escala anômala foi corroborada através de microscopia de força atômica das amostras.
This can be explained by the high roughness due to the specific kind of growth of these films, as revealed by atomic force microscopy images.
Isto pode ser explicado pela alta rugosidade devido ao tipo específico de crescimento destes filmes, como revelado por imagens de microscopia de força atômica.
The membranes were characterized by thermogravimetric analysis (TGA), dynamical scanning calorimetry (DSC), dynamical mechanical analysis (DMA), scanning electron microscopy (SEM), mechanical tests and optical microscopy techniques, and the pins, besides the techniques mentioned above, were characterized by atomic force microscopy (AFM) and transmission electron microscopy (TEM).
As membranas foram caracterizadas através das técnicas de análise termogravimétrica (TOA), calorimetria diferencial de varredura (DSC), análise dinâmico mecânica (DMA), microscopia eletrônica de varredura (SEM), ensaio mecânico e microscopia óptica, e os pinos, além das técnicas citadas acima, foram caracterizados por microscopia de força atômica (AFM) e microscopia eletrônica de transmissão (TEM).
in this module, we performed single molecules stretching experiments with optical tweezers, and we supported our analysis and conclusions with the techniques of Gel Electrophoresis, atomic force microscopy and Dynamic Light Scattering.
neste módulo, fizemos experimentos de estiramentos em moléculas únicas com pinça óptica e apoiamos nossas análises e conclusões nas técnicas de Eletroforese em Gel, microscopia de força atômica e Espalhamento Dinâmico de Luz.
For surface evaluation the etched sample had the topography analyzed by atomic force microscopy (AFM).
Para avaliação da superfície a amostra atacada teve a topografia analisada por microscopia de força atômica (AFM).
Furthermore, atomic force microscopy (AFM) and X-ray Diffraction (XRD) were used to characterize the topography of the surface as well as the long range structure of thin films.
Além disso, microscopia de força atômica (AFM) e Difração de Raios X (XRD) foram utilizadas para caracterização morfológica da superfície bem como a estrutura de longo alcance dos filmes finos.
The characterization of the produced samples is done by atomic force microscopy.
A caracterização das amostras produzidas é feita por microscopia de força atômica, técnica que é descrita em detalhes.
The patterns are detected by concurrent atomic force microscopy (AFM) and scanning electric potential microscopy (SEPM).
As amostras foram preparadas utilizando técnicas microlitográficas e sua superfície foi investigada usando as microscopias de força atômica (AFM) e de varredura de potencial elétrico (SEPM).
Through techniques of image mapping there were analyzed: a) the magnetic domains present in the sample, through the techniques of atomic force microscopy. and Magnetic Force (AFM / MFM), and b) the average grain size and uniformity by the technique of Scanning Electron Microscopy with the detection of dispersive X-ray energies (SEM-EDX).
Através de técnicas de mapeamento por imagem foram analisados: a) os domínios magnéticos presentes na amostra, através das técnicas de microscopia de força atômica e de Força Magnética (AFM/MFM); e b) a granulometria média e homogeneidade, pela técnica de Microscopia Eletrônica de Varredura com detecção de Energias dos Raios-X Dispersos (MEV-EDX).
The devices presented satisfactory results, compatible to the behavior predicted by SPICE simulations, suggesting a good performance in application specific circuits, such as optical position sensitive detectors and wavefront sensors, and in several fields, such as astronomy, ophthalmology and atomic force microscopy (AFM)
Os dispositivos apresentam resultados satisfatórios e compatíveis ao comportamento previsto em simulações SPICE, indicando que podem obter bom desempenho em circuitos para aplicações específicas, como sensores ópticos de posição e sensores de frente de onda, em diversas áreas, como astronomia, oftalmologia e microscopia de força atômica (AFM)
The samples were characterized by the techniques of atomic force microscopy (AFM), Raman spectroscopy, and impedance spectroscopy.
As amostras foram caracterizadas pelas técnicas de microscopia de força atômica (AFM), espectroscopia RAMAN e espectroscopia de impedância.
It was evaluated the microtopographies and the roughness of the surface of stainless steel and stainless steel attachment with B. cereus with the help of atomic force microscopy and perfilometry.
Avaliou- se a rugosidade e a microtopografia da superfície de aço inoxidável e aço inoxidável aderido com células de B. cereus com auxilio da microscopia de força atômica e da perfilometria.
Moisture absorption/retention properties have been added by controlling the dosage of DBD treatment where image analysis obtained by atomic force microscopy demonstrated fiber surface modification, especially observation of surface regularization.
Propriedades de absorção/retenção de umidade foram acrescidas, controlando-se a dose do tratamento de DBD e imagens obtidas por análise de microscopia de força atômica demonstraram modificação superficial da fibra, especialmente observação de regularização da superfície.
From profilometry and atomic force microscopy (AFM) analysis, it was possible to monitor changes in thickness and roughness of the coatings and it was found that the presence of salt in polyelectrolyte solutions promoted polymer chains conformations with more loops and tails and this arrangement in solution is transmitted to films, resulting in rougher coatings.
Por análises de perfilometria e microscopia de força atômica (AFM) foi possível monitorar mudanças de espessura e rugosidade dos recobrimentos e foi verificado que a presença de sal no meio de deposição faz com que os polímeros apresentem conformações com mais loops e tails e esse arranjo das cadeias em solução é transmitido para os filmes, que se tornam mais rugosos.
These films were analyzed by Ellipsometry, Infrared Spectroscopy, Raman Spectroscopy, atomic force microscopy and Rutherford Backscattering Spectroscopy.
Posteriormente, estes filmes foram oxidados e recozidos utilizando diferentes temperaturas através de um forno de processamento térmico rápido, do inglês rapid thermal process (RTP).
in this module atomic force microscopy was used ( atomic force microscopy - AFM) to characterize the surface of Nafion membranes with nanoparticles of incorporated silica through two methods ( Casting and Sol - gel ).
neste módulo foi utilizada a microscopia de força atômica (Atomic Force Microscopy - AFM) para caracterizar a superfície de membranas de Nafion com nanopartículas de sílica incorporadas por dois métodos ( Casting e Sol-gel ).
The sample surfaces were characterized by Scanning Electron Microscopy (SEM), atomic force microscopy (AFM) , Attenuated Total Reflectance Infrared Spectroscopy (ATR-FTIR), X-ray Photoelectron Spectroscopy (XPS) and contact angle.
A superfície das amostras foi caracterizada por Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV), microscopia de força atômica (MFA), Espectroscopia de Reflectância Total Atenuada (FTIR-ATR), Espectroscopia de Fotoelétrons Excitados por raios-X (XPS) e ângulo de contato.
The characterization and monitoring of the degradation of the PCL film, the PCL/starch blend and the composite PCL/starch/coconut fiber was made by Visual Analysis, Mass Loss, Near Infra-Red Spectroscopy(NIR), Thermogravimetric analysis (TGA ), Electronic Scanning Microscopy (SEM), atomic force microscopy (AFM) and Principal Components Analysis (PCA).
A caracterização e o acompanhamento da biodegradação do filme de PCL, da blenda PCL/amido e do compósito PCL/amido/fibra de coco foi feita por Análise Visual, Perda de Massa, Espectroscopia no Infra-Vermelho Próximo (NIR), Análise Termogravimétrica (TGA), Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV), microscopia de força atômica (AFM) e Análise de Componentes Principais (PCA).
in this module we manufacture and characterize structures of artificial spin ice, produced by nanolithography techniques, arranged in a rectangular unidirectional lattice and characterized by atomic force microscopy (AFM) and Magnetic Force Microscopy (MFM).
neste módulo fabricamos e caracterizamos estruturas de gelos de spin artificiais, produzidas por técnicas de nanolitografia, dispostas em uma rede retangular unidirecional e caracterizadas por microscopia de força atômica (AFM) e Microscopia de Força Magnética (MFM).
The porous silicon morphology was analyzed in-situ (liquid-phase) by atomic force microscopy to study of the variation of the porosity with the anodization parameters.
A morfologia do silício poroso foi analisada por microscopia de força atômica dentro do próprio meio líquido para estudo quantitativo da variação da porosidade com os parâmetros da anodização.
Considering that, this dissertation aimed to characterize the structure and stability of the giant extracellular hemoglobin of the annelid Amynthas gracilis (HbAg) by different biophysical t echniques, such as optical absorption, light scattering intensity (LSI), dynamic light scattering (DLS), SDS - PAGE electrophoresis, analytical ultracentrifugation (AUC), Matrix Assisted Laser Desorption Ionization - Time of Fly - Mass Spectrometry (MALDI - TOF - MS ) and atomic force microscopy .
Devido a estas propriedades, os objetivos desta obra foram caracterizar a estrutura e a estabilidade da hemoglobina extracelular gigante do anelídeo Amynthas gracilis (HbAg) por diferentes técnicas biofísicas, tais como, absorção ótica, intensidade de espalhamento de luz (LSI), espalhamento de luz dinâmico (DLS), eletroforese SDS-PAGE, ultracentrifugação analítica (AUC), espectrometria de massas por tempo de voo (MALDI-TOF-MS) e microscopia de força atômica (AFM).
The Structural characterization occurred through ellipsometry, atomic force microscopy. Raman spectroscopy, X-ray diffraction and x-ray absorption near edge spectroscopy, denoting the tetragonal crystal structure of the rutile form of TiO2.
A caracterização estrutural ocorreu através de elipsometria, de microscopia de força atômica, de espectroscopia Raman, de difração de raios-X e de espectroscopia de absorção de raios-X próximo da borda, constatando a estrutura cristalina tetragonal referente à forma rutilo do TiO2.
X-Ray diffraction, UV-vis Spectroscopy and atomic force microscopy studies reveal that such increase can be related to the plasmonic effect and also to a change in the morphology, increasing polymer crystallinity after incorporation of the gold nanoparticles.
Estudos de caracterização através de difração de raios-X, espectroscopia UV-visível e microscopia de força atômica, indicam que esse aumento está relacionado a uma mudança na morfologia do sistema, aumentando a cristalinidade do polímero e também ao efeito plasmônico com a adição das nanopartículas.
Cells treated with EDTA and bovicin HC5 and were visualized by atomic force microscopy and showed changes in their cell envelope, with a reduction in height and increase in roughness.
Células tratadas com bovicina HC5 e EDTA foram visualizadas por microscopia de força atômica e apresentaram alterações no envelope celular, com redução na altura e aumento nas rugosidades.
Also tests were performed, microindentation, nanoindentation, optical microscopy for microstructural analysis, scanning electron microscopy for fractographic analysis, atomic force microscopy and residual stress analysis
Também foram realizados ensaios de microindentação, nanoindentação, microscopia óptica para análise microestrutural, microscopia eletrônica de varredura para análise fractográfica, microscopia de força atômica e análise de tensão residual
...id/GO: 0,24, 2,4 and 24). The structural and morphological analysis of the hybrids were performed by 29Si nuclear magnetic resonance (NMR), X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), Raman spectroscopy, atomic force microscopy (AFM) and wettability measurements. Thermogravimetric analysis was performed for analysis of thermal properties, and hardness measurements and microscratch for analysis of mechanical properties of th...
...i utilizada para estudo da redução do óxido de grafite, utilizando o agente redutor ácido ascórbico em três concentrações (razão molar ácido ascórbico/GO: 0,24, 2,4 e 24). A análise estrutural e morfológica dos híbridos foi realizada por ressonância magnética nuclear de 29Si (RMN), espectroscopia de fotoelétrons induzidos por raios X (XPS), espectroscopia Raman, microscopia de força atômica (AFM) e medidas de molhabilidade. Termogravimetria foi realizada para análise das propriedades térmicas e me...
...imit. By applying the reported theoretical methodologies to CdTe nanocrystals synthesized through aqueous chemical routes, size distributions are inferred and compared directly to those obtained from atomic force microscopy and transmission electron microscopy. Finally, the possibility of recovering the size distribution from spectroscopic experiments can be used to clarify the growth kinetics of colloidal nanocrystals ...
...s teóricas aqui desenvolvidas a nanocristais de CdTe sintetizados através de rotas químicas aquosas, distribuições de tamanhos foram determinadas e comparadas diretamente à aquelas obtidas a partir das técnicas de microscopia de força atômica e microscopia eletrônica de transmissão. Finalmente, a possibilidade de recuperar a distribuição de tamanhos a partir de experimentos espectroscópicos pode ser usada para elucidar a cinética de crescimento de nanocristais coloidais, pois a evolução temporal dos e...
...ansform Infrared Spectroscopy (FTIR), Raman Spectroscopy, Visible Ultraviolet, Nuclear Resonance Magnetic (1H NMR), Profilometry, Ellipsometry, Optical Microscopy, Scanning Electron Microscopy (MEE), atomic force microscopy (AFM), X-Ray Diffraction, Differential Scanning Calorimetry (DSC) and thermogravimetric analysis (TGA) techniques. The electrical conductivity measurements of the 80,20 PT3MA/PBS biodegradable nanome...
...s de Espectroscopia no Infravermelho por Transformada de Fourier (FTIR), Espectroscopia Raman, Ultravioleta Visível, Ressonância Magnética Nuclear, Perfilometria, Elipsometria, Microscopia Óptica, Microscopia Eletrônica Exploratória, microscopia de força atômica, Difração de Raios-X, Calorimetria Diferencial Exploratória (DSC) e Análises Termogravimétricas (TGA). Os resultados das medidas de condutividade elétrica das membranas ultrafinas biodegradáveis de PT3MA/PBS 80,20 mostram uma condutividade de ~1...
...on sputtering with different temperatures and substrates. The effects of varying theses two parameters on structured and optical properties of these films were analysed. Therefore, X-ray diffraction, atomic force microscopy. optical transmittance in the ultraviolet/visible/infrared, and Rutherford Backscattering Spectrometry (RBS) were used to characterize the samples. The results show that temperature, substrate type, ...
...técnica alternativa de RF magnetron sputtering reativo com diferentes temperaturas e tipos de substratos. Analisou-se o efeito da variação destes dois parâmetros sobre estrutura e propriedades ópticas destes filmes. Utilizou-se medidas de difração de raios-X, microscopia de força atômica, transmitância no ultravioleta/visível/infravermelho e espectroscopia de espalhamento Rutherford (RBS). As medidas realizadas reportaram que tanto a temperatura quanto o tipo de substrato influenciaram na textura de orienta...
...l pressure, silana and germana flow and deposition time, were altered conveniently based on the literature and results obtained at each production cycle. The morphology of the samples was analyzed by atomic force microscopy (AFM) and the NCs structures were analyzed by high resolution transmission electron microscopy (HRTEM). We studied the influence of the process parameters in the NCs characteristics and we have obser...
...a e germana e tempo de deposição, foram alterados convenientemente, com base na literatura e nos resultados obtidos a cada ciclo de fabricação. As amostras foram caracterizadas quanto à morfologia, por microscopia de força atômica (AFM) e a estrutura dos NCs foi analisada por microscopia eletrônica de transmissão de alta resolução (HRTEM). Estudamos a influência dos parâmetros de processo nas características dos NCs e observamos tendências de aumento da densidade de NCs com a elevação da temperatura, ...
...CdSe and the deactivation of the electron transfer process between the polymer and PCBM. To investigate the possible contribution of a morphological effect induced by CdSe in P3HT/PCBM system, atomic force microscopy (AFM) images were obtained. There is an increase of roughness and grain size of the system with the addition of CdSe nanoparticles, which can inhibit the charge separation process and formation of pe...
... CdSe e na desativação do processo de transferência de elétrons entre polímero e PCBM. Para investigar um possível efeito de morfologia pela introdução de CdSe ao sistema P3HT/PCBM, foram obtidas imagens de microscopia de força atômica e microscopia óptica. Há um aumento da rugosidade e tamanho de grãos do sistema com o acréscimo de nanopartículas de CdSe, que pode inibir o processo de separação de cargas e de formação de redes de percolação...
... of this research was to obtain nano roughness and anatase phase in dental Titanium implants, seeking for the optimization of the osseointegration. Sixty implants were characterized for morphology by atomic force microscopy (AFM) and Scanning Electron Microscopy (SEM); in chemical composition, by mass spectrometry detector energy scattering (EDS) and Raman spectroscopy; and finally, as the potential for corrosion, the e...
...dades e fase de anatase em implantes odontológicos de Titânio, buscando a otimização da osseointegração. Sessenta implantes foram caracterizados quanto à morfologia, por meio de microscopia de força atômica (AFM) e Microscopia Eletrônica de Varredura (MEV); quanto à composição química, por análise por detector de espectrometria por espalhamento de energia (EDS) e Espectroscopia Raman; e por fim, quanto ao potencial de corrosão, pela análise de impedância eletroquímica (EIE). A osteogênese, in vivo,...
...ute to the decomposition of organic material through decomposition of rhodamine in TiO2 thin films on a silicon substrate. The degradation performance was monitored with the aid of techniques such as atomic force microscopy. transmission electron microscopy, field emission gun scanning electron microscopy, Fourier transform spectroscopy, thermal and photocatalytic analyses...
... viu-se a necessidade de desenvolver um trabalho aliado aos ideais ambientais, com o objetivo de contribuir para a decomposição de material orgânico através da decomposição da rodamina em filmes finos de TiO2 em substrato de silício, com auxílio de técnicas de caracterização de microscopia, espectrometria, analises térmicas e fotocatalíticas para o conhecimento do desempenho da degradação...
...m infrared spectroscopy (FTIR), photon correlation spectroscopy (PCS), differential scanning calorimetry (DSC), thermogravimetric analysis (TGA), zonal density gradient centrifugation, film adhesion, atomic force microscopy (AFM), scanning electron microscopy (SEM) and transmission electron microscopy (TEM). The FTIR spectra are similar but also show differences in some spectral regions. The DSC results present that a s...
... espectroscopia por correlação de fótons (PCS), calorimetria de varredura diferencial (DSC), analise termogravimétrica (TGA), centrifugação zonal em gradiente de densidade, ensaio de adesão, microscopia de força atômica (AFM), microscopia eletrônica de varredura (SEM) e microscopia eletrônica de transmissão (TEM). Os espectros FTIR são similares, mas apresentam diferenças nítidas em algumas regiões espectrais. Os resultados obtidos das análises térmicas indicam que uma maior quantidade de água não ...
...dynamic light scattering (DLS), SDS - PAGE electrophoresis, analytical ultracentrifugation (AUC), Matrix Assisted Laser Desorption Ionization - Time of Fly - Mass Spectrometry (MALDI - TOF - MS ) and atomic force microscopy . The HbAg had an optical absorption spectrum with a maximum of 4,5 nm (Soret band) , and 5,0 and 5,5 nm (Q bands) at pH 7,0 . The alk alinization of the medium shifted the absorption maxima to 4,5 n...
...nts. In Brazil, both exotic and indigenous species of whiteflies are found and there is still a lack of genomic data available among these populations and also their bacterial endosymbionts. In East Africa, high populations of whiteflies are transmitting different plant viruses that are causing epidemics in cassava crops (Manihot esculenta) and leading to great yield losses. Currently, the management of these viral diseases in Africa is carried out mainly by growing cassava tolerant varieties. Therefore, is essential ...
...samples, about 0,5 μm/h, while the substrate temperature was changed between 1,0 and 2,0 o C. The grown films structure and surface morphology were characterized by xray diffraction (XRD) and atomic force microscopy (AFM). The X-ray measurements show that films grown on all substrates are polycrystalline with (1,1) preferential orientation, although the films grown on Kapton show much lower crystallinity. The AF...
.../h enquanto a temperatura do substrato variou de 1,0 a 250,0 C. A estrutura e a morfologia dos filmes crescidos foram caracterizadas por difração de raios-x (DRX) e microscopia de força atômica (AFM). As medidas de raios-X mostram que os filmes crescidos em todos os substratos são policristalinos com orientação preferencial (1,1), embora os filmes crescidos sobre Kapton mostrem menor cristalinidade. As imagens de AFM foram utilizadas para determinar a rugosidade global, distribuições de altura e o espe...
...tructure, dissolution rate and calcium phosphate formation. BG45Cas were obtained by ion exchange method by immersion in molten salt bath containing calcium. The combination of Raman spectroscopy and atomic force microscopy (AFM) allowed the monitoring of the structural changes of BG45,5 bioglass submitted to increasing durations of immersion in the molten salt bath at 4,0 °C, whereas X-ray Fluorescence (XRF) was emplo...
...cio, por imersão em banho de sal fundido contendo cálcio (BG45Cas) e o seu efeito sobre a estrutura da superfície, a velocidade de dissolução e também a cinética da formação do fosfato de cálcio. A combinação da microscopia de força atômica e espectroscopia Raman (AFM) permitiu o acompanhamento das mudanças estruturais do BG45,5 submetido a diversos tempos de imersão no banho de sal fundido a 4,0 °C, enquanto que a fluorescência de raios X (XRF) foi empregada para monitorar a evolução temporal do p...
...ly(diallyldimethylammonium)/ poly(styrene sulfonate), PDDA/PSS, were fabricated by layer-by-layer (LbL) self assembly onto quartz slides. The films were characterized by means of UV-Vis spectroscopy, atomic force microscopy (AFM) and angle contact measurements. Moreover, the adsorption kinetics of tannic acid on the PAADDA/PSS and PDDA/PSS films was investigated. UV-Vis absorption measurements confirmed the formation of...
..., PDDA/PSS, foram preparados pela técnica de layer-by-layer (LbL) sobre lâminas de quartzo. Os filmes foram caracterizados por espectroscopia na região do UV-Vis, microscopia de força atômica (AFM) e através de medidas de ângulos de contato. Além disso, a cinética de adsorção do ácido tânico (TA) sobre os filmes de PAADDA/PSS e PDDA/PSS foi investigada. Os espectros de absorção na região do UV-Vis de PAADDA/PSS e PDDA/ PSS sobre lâminas de quartzo confirmaram a formação dos filmes finos. As imagens ...
...2) mercury lamp irradiation for 1,0 h or more; and 3) washing with sodium dodecyl sulfate solution. The main analysis techniques used were scanning (FESEM) and transmission (TEM) electron microscopy, atomic force microscopy (AFM), small angle X-ray scattering (SAXS) and attenuated total reflectance with Fourier transform infrared spectroscopy (ATR-FTIR). SAXS results showed that the damages caused by irradiation take pl...
... ou mais; e 3) lavagens com solução de dodecil sulfato de sódio. As principais técnicas de análise utilizadas foram microscopia eletrônica de varredura (FESEM) e de transmissão (TEM), microscopia de força atômica (AFM), espalhamento de raios-X a baixo ângulo (SAXS) e espectroscopia de refletância total atenuada na região do infravermelho (ATR-FTIR). Os resultados de SAXS mostraram que os danos causados pela irradiação ocorrem, sobretudo, na região amorfa do cabelo, sendo que não foram percebidas altera...
...in this module, the surface morphology of NiOx and MoOx thin films deposited by r.f. sputtering was studied by atomic force microscopy and electrochemical techniques (cyclic voltammetry and electrochemical impedance spectroscopy). For each technique, the surface characterization was done by the fractal dimension, using the concept of scaling laws. The results of atomic force microscopy showed a typical grain morphology,...
...neste módulo, a morfologia da superfície de filmes finos de NiOx e MoOx depositados por pulverização catódica foi estudada através da técnica de microscopia de força atômica e por técnicas eletroquímicas (voltametria cíclica e espectroscopia de impedância eletroquímica). Em cada técnica, a caracterização da superfície foi feita por meio de sua dimensão fractal, usando-se o conceito de leis de escala. Os resultados da microscopia de força atômica mostraram que os filmes apresentam uma morfologia gr...
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